韩国三点尽露不打码电影,欧美freesex黑人又粗又大,在线观看的av网站,BYTV跳转接口点击进入网页

您好！歡迎訪問安徽智微科技有限公司網站！
全國服務咨詢熱線:

13951825145

當前位置：首頁 > 產品中心 > 芯片表征設備 >
  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新時間：2024-06-04

    型號：

    瀏覽量：3345

    薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺配合，實現大面積膜厚自動測量。
    了解詳情
  • 微納結構三維形貌測量儀
    微納結構三維形貌測量儀

    更新時間：2024-06-04

    型號：

    瀏覽量：2422

    微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀，基于白光干涉掃描原理，以光波長作為測量基準，利用納米級高精度掃描系統結合具有自主知識產權的高精度解析算法，實現連續(xù)或臺階突變微納結構表面三維形貌重構，由此獲得待測物體三維形貌、表面紋理、微觀尺寸等各類外觀參數測量結果。
    了解詳情
共 2 條記錄，當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
安徽智微科技有限公司
地址：安徽省合肥市經開區(qū)尚澤大都會A座2214
郵箱：1053185136@qq.com
傳真：
關注我們
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息：
歡迎您關注我們的微信公眾號
了解更多信息